介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測(cè)試儀  型號(hào):HAD-ZJDB

、概述
HAD-ZJDB型介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測(cè)試儀是我公司代通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制、測(cè)量核心，真正實(shí)現(xiàn)了介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測(cè)試儀的數(shù)字化，電容、電感、Q值、信號(hào)源頻率都在個(gè)液晶屏上展示出來(lái)。在你操作時(shí)，再也不用去注意量程和換算單位。在何頻率下，只要能找到諧振點(diǎn)，都能直接讀出電感、電容值，大大擴(kuò)展了電感的測(cè)量范圍，而不再是固定的幾個(gè)頻率下才能測(cè)出電感值的大小。采用DDS數(shù)字直接合成方式的內(nèi)信號(hào)源，具有信號(hào)失真小，頻率、信號(hào)幅度穩(wěn)定的優(yōu)點(diǎn)，更保證了測(cè)量度的性。另外還采用了標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程手動(dòng)或自動(dòng)轉(zhuǎn)換，自動(dòng)穩(wěn)幅等新，改了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至zui低，使得新表在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為。
    介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測(cè)試儀能在較的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電材料的頻介質(zhì)損耗，頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、廠等單位。
二、作性
   1．Q值測(cè)量
   a．Q值測(cè)量范圍：2～1023。
   b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
 c．標(biāo)稱誤差
項(xiàng)    目 HAD-ZJDB
頻率范圍 20kHz～10MHz；
固有誤差 ≤5％±滿度值的2％；
作誤差 ≤7％±滿度值的2％；
頻率范圍 10MHz～60MHz；
固有誤差 ≤6％±滿度值的2％；
作誤差 ≤8％±滿度值的2％。
   2．電感測(cè)量范圍：14.5nH~8.14H
3．電容測(cè)量：1~ 460
項(xiàng)    目 HAD-ZJDB
直接測(cè)量范圍 1～460pF
主電容調(diào)節(jié)范圍
準(zhǔn)確度 30～500pF
150pF以下±1.5pF；
150pF以上±1％
   注：大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見使用規(guī)則
   4．信號(hào)源頻率覆蓋范圍
項(xiàng)     目 HAD-ZJDB
頻率范圍 10kHz～50MHz
頻率分段
（虛擬） 10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～60MHz     
頻率示誤差 3×10-5±1個(gè)字
   5．Q合格示預(yù)置能
      預(yù)置范圍：5～1000。
   6．介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測(cè)試儀正常作條件
   a.  環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
   b．相對(duì)濕度：<80％；
   c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
   7．其他
   a．消耗率：約25W；
   b．凈重：約7kg；
   c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。